東莞愛佩專業(yè)直接生產(chǎn)廠商冷熱沖擊試驗測試標(biāo)準(zhǔn)特別適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試，主要測試材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)溫及溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機(jī)帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃起移動的。
標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
2、2GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
5、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
6、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
10、GB/T 2423.22-2002溫度變化
11、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗般規(guī)則
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
冷熱沖擊試驗測試標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：
A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動度：±2.0℃
溫度轉(zhuǎn)換時間：10S
溫度穩(wěn)定時間：5min，常溫～低溫度5min，常溫～高溫度5min
內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304不銹鋼
外箱材質(zhì)：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理