電子產品試驗的高低溫試驗箱/帶操作孔的高低溫試驗箱

有小型及大型之分，小型的是指內容積比較小，如80升，100升，150升這些般歸為小型高低溫箱，像225升、408升、800升、1000升以上或者非標定制的則歸類為大型高低溫箱。不管是標準高低溫箱還是小型高低溫箱或大型高低溫箱，它們的用途、特點、工作原理、應用行業(yè)等均相同。就如高低溫試驗箱樣適用于電子、電器、光電、LED、家電、辦公用品、機械設備、玩具、油漆、涂料、等工業(yè)產業(yè)界的原材料、半成品，成品做高溫、低溫、高低溫交變循環(huán)恒定等試驗。檢測測試物在不同的溫度環(huán)境下是否有性能上的改變及變化。這些設備主要由不銹鋼加工成的箱式殼體配上加熱系統（高溫功能對應的系統）及制冷系統（低溫功能對應的系統）再加上空氣循環(huán)系統（此系統能保證箱內均勻度及波動度符合及滿足標準對應的要求）以及控制操作系統組成。獨立的加溫與制冷系統使高溫實驗用溫箱/高低溫設備箱更有效的升溫、降溫，制冷系統為自動控制與安保護協調系統。

電子產品試驗的高低溫試驗箱/帶操作孔的高低溫試驗箱參數的選型參數：
溫度范圍：-70℃~150℃
更多溫度范圍可以選擇：A：0℃~150℃；B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-70℃~150℃
溫度波動度：±0.5℃；溫度均勻度≤2.0℃
升溫時間：平均約3.0℃/min（非線性空載）
降溫時間：平均約0.7℃~1.2℃/min非線性空載）
電源電壓：AC220V或者AC380V,50Hz（±10%）可選擇。
低溫可選擇范圍：RT+10℃～0℃；RT+10℃～-20℃；RT+10℃～-40℃；RT+10℃～-70℃
內箱尺寸：寬400mm×高500mm×深400mm;外尺寸約：寬600mm×高1500mm×深1100mm;
溫度均勻度：≤2℃
控制精度：是指控制器表頭控制的精度（≤0.2℃）
溫度波動度：±0.5℃(恒定狀態(tài)時)
溫度偏差:±2℃(空載)
降溫速率:約1℃/每分鐘(標要求降溫速率)
調溫方式:平蘅調溫方式(BTHC方式)
設備可連續(xù)工作,也可設定多個程序，多個試驗條件，工作時間可調

電子產品試驗的高低溫試驗箱/帶操作孔的高低溫試驗箱參數的用途特點：
用途：該系列設備廣泛用于比較細小的電子、電工產品、如小的工業(yè)原材料、小型的零部件、或者小型的成品如手機或者其它產品的耐低溫試驗或者耐低溫儲存。 
特點：體型小、占地空間小、價格便宜、節(jié)能降耗、性能穩(wěn)定、操作簡單、故障率低。 還具有雙重的PID控制功能，可以自己自動調整、線路損壞報警、壓縮機超壓報警、傳感器斷線報警等功能； 愛佩公司設計的*送風循環(huán)系統，溫度分布均勻性佳，波動度小； 同時具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察低溫箱內的細小測試物。

電子產品試驗的高低溫試驗箱/帶操作孔的高低溫試驗箱與滿足標準
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美標準；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

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